CTS-8072PR+雙通道高頻脈沖發(fā)生接收儀

CTS-8072PR+脈沖發(fā)生接收儀是應(yīng)用于高頻檢測研究的專用儀器，具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路，以及由高性能尖脈沖發(fā)生器及高壓電源組成的尖波發(fā)射電路；提供雙通道數(shù)據(jù)采集功能，并可實現(xiàn)計算機同步控制。

產(chǎn)品介紹

CTS-8072PR+脈沖發(fā)生接收儀是應(yīng)用于高頻檢測研究的專用儀器，具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路，以及由高性能尖脈沖發(fā)生器及高壓電源組成的尖波發(fā)射電路；提供雙通道數(shù)據(jù)采集功能，并可實現(xiàn)計算機同步控制。

功能特點

高精度測量：可以對物體的尺寸、形狀和位置進行精確測量。比如在工業(yè)無損檢測中，能夠準(zhǔn)確檢測出零部件的微小缺陷。

窄波束：波束較窄，有助于提高檢測的方向性和定位精度。

特殊設(shè)計匹配高頻探頭的尖脈沖發(fā)生器，上升時間＜3ns，-110V～-320V可調(diào)。

脈沖重復(fù)頻率可調(diào)，最高20kHz。

信號帶寬：20KHz～110MHz（-3dB）。

-6dB～+54dB，1dB步進的RF可調(diào)增益范圍。

20kHz或20MHz可選高通濾波器。

500MHz采樣率/12bit數(shù)據(jù)采集模塊。

標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口，實現(xiàn)計算機同步控制及數(shù)據(jù)采集。

提供本公司自主研發(fā)的30MHz、50MHz等系列高頻探頭。

性能指標(biāo)

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用領(lǐng)域：

電子專業(yè)：檢測集成電路芯片、印刷電路板的缺陷。超聲掃描顯微鏡SAM、高頻C掃等。

材料研究：評估微小材料的結(jié)構(gòu)完整性，如復(fù)合材料中的微小裂紋。可應(yīng)用于測量材料的聲學(xué)特性，如聲速、衰減等，包括材料晶粒度的評估等。

精密機械：檢測精密零部件的表面和內(nèi)部缺陷。

探頭測試：可應(yīng)用于高頻超聲波探頭的聲學(xué)特性的評價以及性能指標(biāo)的測試。

聲學(xué)專業(yè)：探究高頻超聲在不同介質(zhì)中的傳播特性。

應(yīng)用案例：

 厚度測量

采用CTS-8072PR+高頻脈沖發(fā)射接收儀，配合我司自主研發(fā)的50MHz高頻探頭，可實現(xiàn)最薄0.08mm塞尺的厚度測量，測量結(jié)果準(zhǔn)確，波形清晰，波形僅1個周期。